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六面外观检测设备

【设备用途】
本设备应用于半导体领域芯片外观的六面检测 。

【功能描述及特点】
1.采用双转盘，圆盘以伺服马达传动24分割，方便后期扩展;
2.过筛率≤1%，漏检率≤0%；
3.TT≤1.5s。

功能描述及特点


1.采用双转盘，圆盘以伺服马达传动24分割，方便后期扩展;

2.过筛率≤1%，漏检率≤0%；

3.TT≤1.5s。


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六面外观检测设备
【设备用途】
本设备应用于半导体领域芯片外观的六面检测 。

【功能描述及特点】
1.采用双转盘，圆盘以伺服马达传动24分割，方便后期扩展;
2.过筛率≤1%，漏检率≤0%；
3.TT≤1.5s。
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